Наши технологии

Инновации, которые соединяют будущее. Расширяем границы возможного в упаковке электроники.

3D интеграция и TSV

3D-интеграция и TSV

Системы сквозных кремниевых переходов (Through-Silicon Via) позволяют вертикально объединять до 16 слоёв чипов. Сокращение задержек на 60%, энергопотребления — на 40%. Диаметр TSV от 2 мкм, глубина до 100 мкм.

Плотность: 10⁶ соединений/мм²
Кремниевые интерпозеры

Кремниевые интерпозеры

Пассивные и активные интерпозеры с микрошагом 2 мкм обеспечивают пропускную способность до 10 Тбит/с для гетерогенной интеграции. Поддержка HBM2E, HBM3. Размер до 2.5D.

Линии 2/2 мкм
Высокоплотные субстраты

Многослойные субстраты

До 32 слоёв проводников, линии/зазоры 5/5 мкм, материалы с низкими диэлектрическими потерями (Dk < 3,0) для работы на частотах до 100 ГГц. Идеально для FPGA, ASIC, процессоров.

До 32 слоёв
Управление теплом

Интегрированное охлаждение

Микроканалы и термоэлектрические охладители, интегрированные в подложку, отводят до 1 кВт/см² тепловой мощности. Решения для жидкостного охлаждения внутри пакета.

1 кВт/см²

Технологии следующего поколения

📦

Fan-Out Wafer-Level Packaging (FOWLP)

Безподложечная упаковка с редистрибуционными слоями. Уменьшение толщины до 200 мкм, улучшенные теплоотвод и электрические характеристики. Подходит для мобильных и носимых устройств.

🔌

Гибридная подварка (Hybrid Bonding)

Соединение медь-медь без паяльных шариков, шаг до 1 мкм. Плотность соединений в 1000 раз выше, чем у флип-чипа. Для 3D-интеграции высокой плотности.

💡

Кремниевая фотоника

Интеграция оптических интерконнектов на подложке. Скорость передачи данных до 400 Гбит/с на канал, минимальные задержки для AI-кластеров.

Технические характеристики платформ

ПараметрЗначение / Диапазон
Минимальная ширина линии / зазор5 / 5 мкм (субстраты), 2 / 2 мкм (интерпозеры)
Количество слоёвДо 32 (органические), до 10 (кремниевые)
Типы материаловLow-Dk, High-Tg, керамика, кремний, стекло
Диаметр TSV2 – 50 мкм
Термическая стабильность-55°C до +125°C (до +200°C для спецверсий)
Максимальное количество I/O> 10 000 на кристалл
Скорость передачи данныхДо 56 Гбит/с на линию (NRZ), до 112 Гбит/с (PAM4)

Дорожная карта развития

2025

Выпуск активных интерпозеров с питанием 0.8V. Массовое внедрение гибридной подварки.

2026

2.1D интеграция с оптоэлектронными вставками. Поддержка HBM4. Технология охлаждения micro-fluidic.

2027

Гетерогенная интеграция с чиплетами на разных техпроцессах (Intel, TSMC, Samsung). Квантово-устойчивые упаковки.

2028+

3D-интеграция с 32+ слоями. Переход на субмикронные межсоединения. Упаковка для нейроморфных процессоров.

Почему Endicott Interconnect?

  • Собственный R&D центр — чистая комната класса 10, оборудование для литографии, PVD, CVD, электрохимического осаждения.
  • Сквозное моделирование — электрическое, тепловое и механическое (ANSYS, Cadence) для оптимизации производительности.
  • Быстрое прототипирование — от концепции до образцов за 4–6 недель.
  • Высокая надёжность — испытания на термоциклирование, влажность, удар, радиацию.
  • Поддержка на всех этапах — инженерная поддержка от дизайна до квалификации и серийного производства.

Нужна консультация по выбору технологии для вашего проекта?

Поговорите с нашим инженером →